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基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究 相关推荐 BIST为复杂电路的测试提供了一种很有前途的解决方案,但由于本身存在的特点,致使电路在测试过程中出现新的问题——测试功耗过高。特别是针对有功耗约束的电路,这种问题就更加突出。过高的测试功耗不但影响电路性能的可靠性,甚至会使电路的成品率下降。因此,低功耗BIST测试已成为研究中的热点问题,本论文主要研究混合BIST低功耗...
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